La conférence se tiendra à Paris, au sein du Muséum national d’Histoire naturelle,  entre le mardi 29 septembre et le vendredi 2 octobre 2026.

Elle vise à réunir des chercheur∙es intéressé∙es par la MA-XRF et les techniques d’imagerie complémentaires pour l’étude du patrimoine culturel et naturel, comprenant l’imagerie spectroscopique par réflectance (RIS), l’imagerie spectroscopique de luminescence (LIS), la cartographie par diffraction des rayons X (DRX), l’imagerie XRF en mode confocal (CXRF), etc.

Les discussions porteront sur les dernières avancées dans le développement d’instruments, les méthodes d’évaluation des données et leurs applications dans les études de cas. Un accent particulier sera mis sur l’intégration de la MA-XRF avec d’autres techniques dans les approches analytiques multimodales.

Le vendredi 2 octobre au matin sera consacré aux enjeux spécifiques auxquels sont confrontés les conservateurs des musées. Cette demi-journée se déroulera au sein de l’École du Louvre.

Les présentations orales seront de 20 min avec questions.Les posters seront présentés au format numérique et introduits par des présentations flash de ~3-4 min.

Les aces du colloques feront l’objet d’un numéro virtuel dans X-Ray Spectrometry.

Les pré-inscriptions sont ouvertes jusqu’au 27 août 2026. 

Le programme est disponible ici.